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zoom RSS バッフルステップ

<<   作成日時 : 2007/05/16 21:56   >>

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 バッフルステップという言葉はあまり聞いたことがないと思います(という私も最近知ったのです)が、バッフル面積が小さいと低域での反射が少なくなり中高域に比べ低域のレベルが下がるというものです。バッフル周辺からの干渉の影響も勿論有ると思いますが、この影響をこちらのフリーソフトで簡単にシミュレーションができます。
http://www.tolvan.com/edge
 大口径のウーファと比べて小口径でもストロークさえ稼げば同じ低音が再生できるはずと言われながら、どうも小口径の低域が違うように思われるのもこのバッフル面積の違いも大きいのではないかと思います。大型のエンクロージャと小型では低域の減衰量がシミュレーションでは100Hzから500Hzぐらいに渡って3〜4dBも違ってきます。
 そこで実際に実験したのがこのグラフで、黒い線が2WAYのウーファユニット直前(3cm)の特性でこれが本来?のユニットの特性です。これに比べ赤い線がスピーカをスタンドに載せで周りに何も置かないフリースタンディングの特性で、シミュレーションどおり500Hzから100Hzにかけて8dBぐらい下がります(といってもこの辺は測定環境の影響大きく完全にその為かは難しいところもあります)。青い線は90cm角のバッフル板の上にベタに置いてこの効果の影響を打ち消すようにしたもので、サイズの影響や位置的条件などで無限大特性にあたる黒線とは一致しませんが、それなりの効果があることが伺えます。
 とここら辺までは納得いくのですが、小型スピーカでの測定ではどうもこの効果がはっきりしないものもあるのがまだ解らないところです。

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